Aparatura badawcza Wydziału

dr hab. Piotr Potera, prof. UR
e-mail: [email protected]
tel. 17 851 87 35

ICEoxford Hall

ICEoxford i magnesem nadprzewodzącym 14 tesli. Pomiar dla próbek materiałowych niskowymiarowych w geometrii 6-kontaktowej "Hall bar" i 4-kontaktowej "krzyżowej"

Ecopia HMS-5000

System pomiarowy efektu Halla HMS-5000 Ecopia. Wyznaczanie parametrów transportowych (m.in. koncentracja i ruchliwość większościowych nośników prądu, stała Halla), charakterystyki VI, dla próbek materiałowych niskowymiarowych i objętościowych w geometrii kontaktów elektrycznych van der Pauw w funkcji temperatury w zakresie 80-350 K i polu magnetycznym 0.5 tesli.

Wieloczęstotliwościowy spektrometr EPR z wyposażeniem

Badane są następujące grupy materiałów: materiały tworzące warstwy czynne, warstwy bierne oraz materiały inteligentne o dużej anizotropii magnetokrystalicznej. Badanie nowych materiałów z magnetyczną pamięcią kształtu. Prowadzone jest także modelowanie materiałów i badania ich własności na potrzeby spintroniki, i optoelektroniki. Badane są także materiały tlenkowy i półprzewodnikowe, materiały optyczne, magnetyczne i nanomateriały, jak również badania rodników (np. krótko żyjące rodniki tlenkowe, oraz długożyjące rodniki w zanieczyszczeniach powietrza).

Dyfraktometr rentgenowski XRD

Model Bruker D8 Advance z modułem DaVinci. Urządzenie pozwala na zaawansowaną dyfraktometrię proszków i cienkich warstw, identyfikację faz i analizę fazową, wyznaczanie parametrów sieci krystalicznej, analizę wielkości krystalitów i naprężeń mikrostrukturalnych,  badania materiałów funkcjonalnych i nanostrukturalnych, oraz badania cienkich warstw / powłok (GIXRD, reflektometria XRR).

Wysokorozdzielczy transmisyjny mikroskop elektronowy (TEM), wyposażony w układ skanujący (STEM) z detektorami HAADF i BF/DF oraz spektrometr EDX

Aparatura do obrazowania i analizy składu chemicznego nanomateriałów, nanocząstek, nanokompozytów

Skaningowy mikroskop elektronowy (SEM) ze zintegrowaną kolumną jonową (FIB)

Aparatura do wstępnego obrazowania oraz trawienia jonowego próbek. Umożliwia wykonanie preparatów o grubości kilkudziesięciu nanometrów

Spektrometr Bruker IFS-125HR

Spektrometr Bruker IFS‑125HR znajdujący się na wyposażeniu Uniwersytetu Rzeszowskiego w Laboratorium Spektroskopii Materiałów jest wysokorozdzielczym spektrometrem Fouriera przeznaczonym do pomiaru widm emisyjnych atomów oraz cząsteczek w fazie gazowej, szczególnie w zakresie widzialnym i nadfioletowym. Dzięki bardzo wysokiej zdolności rozdzielczej urządzenie pozwala rozdzielać bardzo złożone widma na pojedyncze linie, co umożliwia precyzyjną identyfikację przejść spektralnych oraz badanie struktury energetycznej cząsteczek o znaczeniu astrofizycznym, astronomicznym, fizykochemicznym, technologicznym i medycznym.