Aparatura badawcza Wydziału
| Lp. | Nazwa aparatury | Możliwości badawcze | Kontakt |
| 1. | Podwójny MBE - Dual Compact 21T 3-5 & MCT | System MBE Double RIBER COMPACT 21 pozwala na syntezę struktur półprzewodnikowych z wykorzystaniem pierwiastków przynależnych do III i V grupy układu okresowego (pierwsza komora wzrostu MBE) oraz grupy II-VI (druga komora wzrostu MBE). Obecnie w komorach zainstalowano komórki efuzyjne czystymi pierwistakani taki jak: • w komorze III -V : In, Al, Ga, As, Sb, Si, Be • w komorze II-VI natomiast: Te, In, CdI2, Hg, CdTe, ZnTe, Cd, • Dzieki współpracy z IF PAN w Warszawie komorę II-VI doposażono, tymczasowo, w dwie dodatkowe komórki efuzyjne z manganem i chromem. Niezbędnym wyposażeniem laboratorium MBE jest aparatura do badania i charakteryzacji wyważanych materiałów w tym m.in.: Spektrometr Masowy Wtórnych Jonów – firmy ION TOF, Dyfraktometr rentgenowski HRXRD Empyrean firmy PANalytical, Mikroskop optyczny z kontrastem Nomarskiego Olympus DS 1000, Mikroskop konfokalny 3D laserowy Olympus LEXT OLS 5100. |
dr Michał Marchewka e-mail: mmarchewka@ur.edu.pl, tel. 17 851 8671 |
| 2. | Spektrofotometr Cary 5000 | Aparatura umożliwia pomiary widm absorpcji i transmisji (ciała stałe, ciecze) oraz odbicia (ciała stałe, w tym proszki).Źródłem światła w spektrometrze Cary 5000 jest wolframowa lampa halogenowa (światło widzialne i podczerwone) oraz lampa deuterowa z okienkiem kwarcowym (UV). Zakres pomiarowy spektrofotometru wynosi 175 nm - 3300 nm. |
dr hab. Piotr Potera, prof. UR |
| 3. |
System pomiarowy magnetotransportu z kriostatem helowym ICEoxford i magnesem nadprzewodzącym 14 tesli. Umożliwia pomiary próbek materiałowych niskowymiarowych w geometrii 6-kontaktowej "Hall bar" i 4-kontaktowej "krzyżowej" w temperaturach w zakresie 0,3K-300K. Umożliwia rejestrację oscylacji Shubnikova-de Haasa oraz kwantowego efektu Halla. |
mgr inż. Paweł Śliż e-mail: [email protected] tel. 17 851 8678 |
|
| 4. |
System umożliwia wyznaczanie parametrów transportowych (m.in. koncentracja i ruchliwość większościowych nośników prądu, stała Halla), charakterystyki V-I, dla próbek materiałowych niskowymiarowych i objętościowych w geometrii kontaktów elektrycznych van der Pauw, w funkcji temperatury w zakresie 80-350 K i polu magnetycznym 0.5 tesli. |
mgr inż. Paweł Śliż e-mail: [email protected] tel. 17 851 8678 |
|
| 5. |
EPR - Spektrometr FT-EPR ELEXSYS E580 firmy Bruker to zaawansowany, wieloczęstotliwościowy system EPR pracujący zarówno w trybie ciągłym (CW), jak i impulsowym, stanowiący platformę do interdyscyplinarnych badań w zakresie nauk materiałowych, chemii, biologii, biotechnologii i fizyki. Umożliwia pracę w pasmach mikrofalowych X (~9,4 GHz) i Q (~34 GHz). Aparatura obsługuje liczne techniki badawcze, m.in. ESEEM, HYSCORE, pozwalając na analizę oddziaływań spinowych, struktur molekularnych i dynamiki układów paramagnetycznych. Jest to jedyna metoda umożliwia bezpośredni pomiar wolnych rodników. Umożliwia także monitorowanie procesów tlenometrycznych, oraz badania funkcjonowania tkanek i innych procesów chemicznych. |
dr hab. Ireneusz Stefaniuk, prof. UR e-mail: [email protected] tel. 17 851 8672 |
|
| 6. |
XRD - Model Bruker D8 Advance z modułem DaVinci. Urządzenie pozwala na zaawansowaną dyfraktometrię proszków, kryształów i cienkich warstw, identyfikację faz i analizę fazową, wyznaczanie parametrów sieci krystalicznej, analizę wielkości krystalitów i naprężeń mikrostrukturalnych, badania materiałów funkcjonalnych i nanostrukturalnych, oraz badania cienkich warstw/powłok (GIXRD, reflektometria XRR). |
dr hab. Ireneusz Stefaniuk, prof. UR e-mail: [email protected] tel. 17 851 8672 |
|
| 7. |
Wysokorozdzielczy transmisyjny mikroskop elektronowy (TEM), wyposażony w układ skanujący (STEM) z detektorami HAADF i BF/DF oraz spektrometr EDX |
Mikroskop FEI Tecnai Osiris jest w pełni cyfrowym wysokorozdzielczym 200 kV analitycznym systemem transmisyjnego mikroskopu elektronowego (TEM), wyposażonego w układ skanujący (STEM) z detektorami HAADF i BF/DF oraz spektrometr energodyspersyjny EDX. Umożliwia obrazowania i analizy składu chemicznego nanomateriałów, nanocząstek, nanokompozytów. |
dr hab. Andrzej Dziedzic, prof. UR e-mail: [email protected] tel. 17 851 8730 |
| 8. |
Skaningowy mikroskop elektronowy (SEM) ze zintegrowaną kolumną jonową (FIB) |
Mikroskop SEM/FIB to mikroskop elektronowo - jonowy, tzw. dual beam operujący dwoma wiązkami: elektronów i jonów. Wiązka elektronów wykorzystywana jest do obrazowania struktury a wiązka jonów do wycinania preparatów oraz obrazowania. Wykorzystywany jest do wstępnego obrazowania oraz trawienia jonowego próbek. Umożliwia wykonanie preparatów o grubości kilkudziesięciu nanometrów. |
dr hab. Andrzej Dziedzic, prof. UR e-mail: [email protected] tel. 17 851 8730 |
| 9. |
Spektrometr Bruker IFS‑125HR jest wysokorozdzielczym spektrometrem Fouriera przeznaczonym do pomiaru widm emisyjnych atomów oraz cząsteczek w fazie gazowej, szczególnie w zakresie widzialnym i nadfioletowym. Dzięki bardzo wysokiej zdolności rozdzielczej urządzenie pozwala rozdzielać bardzo złożone widma na pojedyncze linie, co umożliwia precyzyjną identyfikację przejść spektralnych oraz badanie struktury energetycznej cząsteczek o znaczeniu astrofizycznym, astronomicznym, fizykochemicznym, technologicznym i medycznym. |
mgr inż. Stanisław Ryzner e-mail: [email protected] tel. 17 851 8570 |
|
| 10. |
Maszyna umożliwiającymi obliczenia równoległe z wykorzystaniem ponad 400 wątków przy użyciu 1 TB pamięci RAM |
dr hab. Jan G. Bazan, prof. UR |