dr inż. Małgorzata Trzyna-Sowa
- Jednostka:
Wydział Nauk Ścisłych i Technicznych, Instytut Inżynierii Materiałowej - Budynek: A0 (korytarz B3), ul. prof. Stanisława Pigonia 1
- Pokój: 318
- Nr telefonu: 17 851 8682
- e-mail: [email protected]
- ORCID: 0000-0002-6546-9382
- Konsultacje dla studentów: środa, czwartek 7.00-8.00
Informacje
Praca naukowa prowadzona jest w obszarze nauk ścisłych i przyrodniczych i ma charakter doświadczalny, ze szczególnym uwzględnieniem zagadnień wpisujących się w dyscypliny fizyki oraz inżynierii materiałowej. Tematyka badawcza koncentruje się na analizie składu chemicznego oraz zjawisk fizykochemicznych zachodzących na powierzchniach i w obrębie międzypowierzchni różnorodnych materiałów, w tym szerokiego spektrum nanomateriałów.
Realizowane prace naukowo‑badawcze obejmują w szczególności charakterystykę właściwości cienkich warstw na bazie tlenków metali i półprzewodników, badania nowoczesnych powłok ochronnych oraz działania ukierunkowane na kontrolę jakości struktur materiałowych. W analizach wykorzystywane są zaawansowane techniki badawcze, w tym spektrometria mas z czasem przelotu jonów wtórnych (TOF‑SIMS), metody mikroskopowe oraz profilometria, umożliwiające kompleksowe badanie topografii, składu i właściwości badanych układów.
Publikacje
- [współaut.] Jarosz D, Juś A, Pasternak M [et al.] Impact of secondary selection parameters on the morphology and crystalline quality of GaSb layers deposited using MBE technology. - Materials Science and Engineering B - Advanced Functional Solid-State Materials, 2026, Vol. 325
- [współaut.] Golovchak R, Mahlovanyi B, Shpotyuk Y [et al.] Copper strontium phosphate glasses with high antimicrobial efficacy. - Scientific Reports, 2025, Vol. 15, iss.1
- [współaut.] Jarosz D, Bobko E, Stachowicz M [et al.] Evolution of the surface morphology of GaSb epitaxial layers deposited by molecular beam epitaxy (MBE) on GaAs (100) substrates. - Surface Science, 2025, Vol. 751
- [współaut.] Khosravizadeh Z, Lysak A, Przeździecka E [et al.] Accurate determination of matrix composition in CdxZn1-xO semiconductor material using MS-SIMS and ToF-SIMS methods. - Journal of Physics D: Applied Physics, 2025, Vol. 58, iss. 2
- [współaut.] Jarosz D, Bobko E, Przeździecka E [et al.] Optimization of MBE-grown GaSb bufer on GaAs substrates for infrared detectors. - Opto-Electronics Review, 2024, Vol. 32, iss. 4
- [współaut.] Jarosz D, Stachowicz M, Płoch D [et al.] Sposób wytwarzania warstw GaSb na podłożach GaAs / Uniwersytet Rzeszowski; wynalazca Jarosz Dawid, Stachowicz Marcin, Płoch Dariusz, Marchewka Michał, Krzemiński Piotr, Juś Anna, Ruszała Marta, Trzyna-Sowa Małgorzata, Bobko Ewa, Grendysa Jakub, Rogalska Iwona, Maś Kinga, Śliż Paweł, Wojnarowska-Nowak Renata. - Biuletyn Urzędu Patentowego, 2024, nr 34, s. 21
- [współaut.] Marchewka M, Jarosz D, Pasternak M [et al.] Interfaces-engineered M-structure for infrared detectors. - Opto-Electronics Review, 2024, Vol. 32, iss. 2, p. 1-9
- [współaut.] Obrębowski S, Ćwik K, Srivatsa S [et al.] Ion implanted MXene electrodes for selective VOC sensors. - Applied Materials Today, 2024, Vol. 39
- [współaut.] Berchenko M, Dziawa P, Cebulski J Molecular speciation analysis of oxidized metal surfaces by TOF SIMS. - Applied Surface Science, 2022, Vol. 577
- [współaut.] Levchenko K, Prokscha T, Sadowski J [et al.] Evidence for the homogeneous ferromagnetic phase in (Ga, Mn) (Bi, As) epitaxial layers from muon spin relaxation spectroscopy. - Scientific Reports, 2019, Vol. 9, Article number: 3394
- [współaut.] Berchenko M, Vitchev R, Wojnarowska-Nowak R [et al.] Surface oxidation of SnTe topological crystalline insulator. - Applied Surface Science, 2018, Vol. 452, p. 134-140
- [współaut.] Polley C, Buczko R, Forsman A [et al.] Fragility of the Dirac Cone Splitting in Topological Crystalline Insulator Heterostructures. - ACS Nano, 2018, vol. 12, iss. 1, s. 617-626
- [współaut.] Berchenko M, Jakieła R, Dziawa P [et al.] The use of high-mass clusters to measure the TOF SIMS profiles of implanted bismuth. - International Journal of Mass Spectrometry, 2017, Vol. 422, p. 143-145
- [współaut.] Grendysa J, Tomaka G, Śliż P [et al.] MBE growth of Topological Isolators based on strained semi-metallic HgCdTe layers. - Journal of Crystal Growth, 2017, vol. 480, p. 1-5
- [współaut.] Grendysa J, Becker C, Wojnarowska-Nowak R [et al.] Dirac's HdCdTe semimetals grown by MBE technology W: International Conference on Semiconductor Nanostructures for Optoelectronics and Biosensors (IC SeNOB 2016) / edited by Małgorzata Pociask-Biały, Michał Marchewka, Dariusz Płoch, Eugen Sheregii. Red Hook, Curran Associates, Inc.: 2017, S. 6-8
- [współaut.] Izhnin I, Voitsekhovskii A, Korotaev A [et al.] Properties of arsenic-implanted Hg1-xCdxTe MBE films W: International Conference on Semiconductor Nanostructures for Optoelectronics and Biosensors (IC SeNOB 2016) / edited by Małgorzata Pociask-Biały, Michał Marchewka, Dariusz Płoch, Eugen Sheregii. Red Hook, Curran Associates, Inc.: 2017, S. 2-5
- Comparison of Se and Te clusters produced by ion bombardment W: International Conference on Semiconductor Nanostructures for Optoelectronics and Biosensors (IC SeNOB 2016) / edited by Małgorzata Pociask-Biały, Michał Marchewka, Dariusz Płoch, Eugen Sheregii. Red Hook, Curran Associates, Inc.: 2017, S. 31-34
- [współaut.] Berchenko M, Story T, Fadeev S [et al.] Comparison of oxidation processes in binary selenides and tellurides. - Surface and Interface Analysis, 2016, Vol. 48, iss. 7, p. 547-551
- [współaut.] Berchenko M, Vitchev R, Bochnowski W [et al.] An out-of-specification element oxide found in the subsurface layer of Ni superalloys after annealing in air. - Corrosion Science, 2016, Vol. 108, p. 205-208
- [współaut.] Kuna R, Minikayev R, Gas K [et al.] Inelastic X-Ray Scattering Studies of Phonon Dispersion in PbTe and (Pb,Cd)Te Solid Solution. - Acta Physica Polonica A, 2016, Vol. 130, nr 5, s. 1251-1254
- [współaut.] Adamiak S, Berchenko M, Bochnowski W [et al.] Surface phenomena in a precipitation-hardenable nickel-chromium alloy during multiple heating/cooling. - Thin Solid Films, 2015, Vol. 591, Part. B, s. 311-315
- [współaut.] Berchenko M, Adamiak S, Bochnowski W [et al.] Changes of PbSnTe thin film thickness due to the oxidation by different methods. - Thin Solid Films, 2015, Vol. 591, Part B, s. 346-350
- [współaut.] Bochnowski W, Dziedzic A, Adamiak S [et al.] Characterization of oxide layers produced on the AISI 321 stainless steel after annealing. - Archives of Metallurgy and Materials, 2015, Vol. 60, iss. 3, s. 2327-2334
- [współaut.] Berchenko M, Fadeev S, Savchyn V [et al.] Pb-Te-O phase equilibrium diagram and the lead telluride thermal oxidation. - Thermochimica Acta, 2014, Vol. 579, s. 64-69
- [współaut.] Berchenko M, Rading D, Cebulski J Time-of-flight secondary ion mass spectroscopy with bismuth primary ions of clean and air-exposed surfaces of tellurium. - European Journal of Mass Spectrometry, 2014, Vol. 20, iss. 6, s. 429-436
- [współaut.] Berchenko M, Savchyn V, Fadeev S [et al.] Composition of PbTe oxides obtained by different methods. - Materials Science in Semiconductor Processing, 2014, Vol. 21, s. 20-25