Multisensorowy system do pomiaru struktury geometrycznej powierzchni AltiSurf 520 AltiMap

Laboratorium Badań Materiałów i Wyrobów, CIT

Opiekun naukowy: dr hab. prof. UR Rafał Reizer

Działalność naukowo – badawcza: Ocena i analiza struktury geometrycznej powierzchni (2D i 3D) z wykorzystaniem metod stykowych i bezstykowych, w oparciu o normy: PN-EN ISO 4287, ISO 25178, ISO 13565-2 oraz ISO 13565-3.

Parametry techniczne urządzenia:

Parametry głowic konfokalnych:

Sonda	CL1	CL2	CL3
Zakres pomiarowy	130	400	1400	µm
Zakres roboczy	3,3	11	12,7	mm
Rozdzielczość osiowa (pionowa)	0,008	0,022	0,06	µm
Dokładność osiowa	0,035	0,08	0,2	µm
Maksymalne nachylenie zbocza nierówności	+/- 42.5	+/- 28	+/- 27	^o
Średnica plamki	1.9	2.3	4	µm
Rozdzielczość lateralna	0.9	1.2	2	µm
Minimalna wartość mierzonego Ra	0,012	0,03	0,09	µm

Parametry stykowej głowicy indukcyjnej:

Zakres pomiarowy	150	500	1500
Rozdzielczość osiowa (pionowa)	0,0075	0,025	0,075	µm
Dokładność osiowa	0,03	0,1	0,3	µm
Promień zaokrąglenia igły pomiarowej	2 µm

Obszar pomiarowy (X, Y, Z) – nieruchoma oś Z, ruchome osie X i Y:

rozmiar: 200 mm x 200 mm x 200 mm.
rozdzielczość pozioma: 0,1 µm x 0,1 µm.
prędkość pomiarowa: 0,1 do 30 mm/s.